"Midiendo a nanoescala, el uso de AFM y técnicas resonantes para mediciones de propiedades a nanoescala"

 

Christian Ivan Enriquez Flores

FCFM, UNACH

Jueves 21 de Septiembre de 2017

Sala de Usos Múltiples de la FCFM-UNACH

12:00 horas

 

Resumen

Con el nacimiento de la nanotecnología, los materiales han sufrido una evolución debido a que las propiedades de los materiales nanoestructurados son diferentes a los materiales en bulto, esto ha hecho que sea imperativo el desarrollo de técnicas de medición capaces de medir cuantitativamente y cualitativamente propiedades a tamaños manométricos. El desarrollo de microscopios basados en electrones nos ha permitido tener una idea de la estructura de los sistemas a niveles atómicos, sin embargo medir propiedades eléctricas, mecánicas, tribológicas, ópticas ha sido todo un reto. El microscopio de Fuerza atómica es capaz de hacer mediciones a nanoescala debido a su funcionamiento, en esta platica se abordara las diferentes técnicas basadas en resonancia mecánica  capaces de hacer imágenes de propiedades ferroeléctricas y mecánicas a nanoescala.

Reseña

El Doctor Enriquez es Ingeniero Químico egresado de la Universidad de Guadalajara, realizó estudios la Maestría en Ciencias en Ingeniería Química en el Instituto tecnológico de Celaya donde trabajo en simulación molecular estudiando el equilibrio de fases de mezclas de alcanos con alcoholes, posteriormente se doctoro en el Cinvestav unidad Querétaro, donde trabajó en el área de recubrimientos y películas delgadas de nitruros y ferroeléctricos. Además de realizar un posdoctorado en ICF de la UNAM unidad Cuernavaca y fue profesor invitado del Cinvestav Unidad Querétaro durante un año donde dirigió colaboraciones con CFE para creación de recubrimientos que mejoraran la corrosión de las turbinas.  Ha publicado en revistas indexadas y actualmente cuenta con la distinción SNI nivel candidato.
 
Acaba de ser electo para ocupar una cátedra en nuestra facultad y se está incorporando con nosotros este semestre.

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